儀器輕便、操作簡便、測量靈活，可以非破壞性的輕易獲得冠層數位高精度圖像

CI-110適用于森林及低矮植物各種高度冠層測量

現場獲取植物冠層彩色圖像，並直接顯示和儲存在電腦上

強大的冠層分析軟體功能，可以現場手動調節閾值、自動調節閾值（OTSU）、光斑透過率Entropy三種冠層分析方法得到冠層參數 

可根據獲取的植物冠層圖像計算出葉面積指數LAI、葉片平均傾角Angle、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直接輻射透過率、消光係數Extinction和葉面積密度的方位分佈Distribution、任意地點和任意時期的太陽軌跡等冠層參數

鏡頭自動水準，一次成像，測量不受天氣、光線影響，無需天空空白對照測量

現場遮罩、躲開影響圖像計算結果的人影、天空等無用圖像